（D,D）反应比（D,T）反应的截面小约2个 量级。 ➢ 一般常用的是（D,T）中子发生器。 ➢ 产额多在108n/s。 ➢ 寿命：几十到几千小时 ➢ 用途：石油测井、在线小时

　　超钚元素中的某些核素在发生自发裂变时会放出中子， 形成中子源，以252Cf (锎)最常用。

　　故出射粒子能量难以反映慢中子的能量，因此， 核反应法常用于中子注量率的测量。这时，Q大 易于甄别去除本底信号。

　　探测介质中含有上述核素的气体探测器、闪 烁探测器，或上述材料作为外辐射体的半导体探 测器均可用核反应法进行中子探测。

　　主要发生在氢核上，常用含氢物质作为辐射 体。反冲质子使探测介质电离、激发而产生输 出信号。

　　相互作用产生可被探测的次级粒子的物质(辐射 体)，中子在辐射体上发生核反应、核反冲、核

　　(γ,fission)反应也可用于中子的产生 ➢ 中子能量为裂变中子，相对于光中子能量

　　选用一些核素具有较高的活化截面，活化 后放射性核素也具有较易测量的放射性。

　　测量粒子的发射率可确定中子的注量率。 一般，热中子的活化截面较高，此法适用于热 中子的注量率的测量。

　　热中子：与吸收物质原子处于热平衡状态， 能量为0.0253eV，中子速度~2.2×103m/s.

　　属于(,n)型中子源。由241Am放射源放出的 粒子，打在9Be上发生反应，产生中子。

　　▪ 即使是非裂变核，如W，Pb和Hg， GeV的质子仍可提供足够的能量使 之发生分裂。

　　➢反应产物不是重带电粒子，而是γ射线Gd吸收一个中子，会放出87.3±2.5%个内转换电子（29－ 181keV）

　　入射中子的能量损失不仅使靶核得到反冲， 且使靶核处于激发态。处于激发态的靶核退激 时放出一个或几个特征光子，在核分析技术 中有重要的应用。

　　中子射入靶核后与靶核形成一个复合核，而后复 合核通过发射一个或几个特征光子跃迁到基态。这

　　➢ 散裂，spallation，指的是高能(~GeV)粒子 (p,n…)与原子核（尤其是重原子核）发生的 一系列复杂反应。

　　反冲质子的能谱为矩形分布。此法主要用于 快中子的探测，尤其是快中子能量的测量。因 此，探测介质中富含含氢物质的探测器，如含 氢正比管、有机闪烁体等适用于核反冲法测量 快中子能谱。

　　中子与重核发生核裂变产生的裂变碎片是 巨大的带正电荷的粒子，能使探测器输出信号。 通过测量碎片数，可求得中子注量率。

　　如(n,2n)，(n,np)等，这些反应的阈能较高， 在8～10MeV以上，只有特快中子才能发生。

　　反应均为放能反应，反应能Q在生成核与出 射粒子之间分配。由于反应能Q比较大，又主要 用于慢中子探测，即：

　　1. 中子的散射 1) 弹性散射 (n,n) 出射粒子仍为中子、剩余核仍为靶核。

　　➢ 早期发现的散裂过程来源于外太阳系的高能 质子（～1－10GeV），这导致了在大气中产 生的中子。

　　➢ 在X射线检测过程中，电子加速器产生的大量X 射线只有极小一部分被用于成像。

　　➢ 利用（γ,n）反应，可以将这些没有用到的X射 线利用起来，使之转化为光中子，从而可以用 于中子技术分析。

　　光子的发射与复合核的寿命相关，一般很快，故称 为“中子感生瞬发射线”，同样在核分析技术中有 重要的应用。

　　2、中子的分类 1) 慢中子：0～1keV。包括冷中子、热中 子、超热中子、共振中子。

　　裂变碎片的总动能为150～170MeV，形成 的脉冲幅度比 本底脉冲幅度大得多，可用于 强辐射场内中子的测量。

　　热中子可引起的核裂变 核：233U， 235U， 239Pu。如235U的热中子截面为580b。对慢中子满 足1/v 规律，仅适用于中子的注量率测量。

　　一些重核只有当中子能量大于某一阈能才 能发生核裂变，可用此判断中子的能量区间。

　　• 缺点： 产额很难做得很高 中子的产额会随着半衰期而衰减 总是伴随有较强的γ射线 时刻存在辐射，对运输、安装和维护 带来严重的防护问题